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徠卡大型自動型半導體檢查顯微鏡DM12000M全新的光學設計,可以提供宏觀模式快速初檢,以及傾斜紫外光路功能(OUV, 傾斜紫外觀察模式) 不單提升了分辨率還提高了檢查12英寸(300毫米)硅片的產能。

徠卡高產能8寸半導體檢查顯微鏡DM8000M提供了全新的光學設計，如理想的 宏觀檢查模式 或者傾斜紫外光 (OUV, 隨檢UV 選擇) 不但提高了分辨能力，同時也增加了觀察 8’’/200 毫米直徑大樣品 時的產量。

徠卡全自動智能型正置金相顯微鏡DM6 M全自動數(shù)字顯微鏡系列為用戶提供了很多的解決方案，其中最凸出的一點就是幫助用戶簡化顯微鏡的操作，使顯微鏡使用簡單，準確，得心應手。