Sensofar輪廓儀微觀世界的多面探索者

產(chǎn)品簡介

Sensofar輪廓儀微觀世界的多面探索者
在材料研究、半導體制造等領域，對微觀世界的精確觀測是推動技術(shù)發(fā)展的重要基礎。

產(chǎn)品型號：S neox

更新時間：2025-09-08

廠商性質(zhì)：代理商

訪問量：63

產(chǎn)品咨詢 17701039158

產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

三維光學輪廓儀

布魯克 BEUKER白光干涉光學輪廓儀 Sensofar 儀光新型共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR 3D光學輪廓儀 SENSOFAR共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR結(jié)構(gòu)光三維輪廓儀 SENSOFAR平面度測量干涉儀 ZYGO三維光學輪廓儀布魯克三維光學輪廓儀

查看全部產(chǎn)品

揭秘EUV光刻核心技術(shù)：如何用納米級測量打造下一代芯片？?

納米級平整的奧秘：CMP技術(shù)如何塑造芯片的精密世界?

應用案例|微型 BUMPS 測量難題？SENSOFAR 3D 光學輪廓儀來解決！

詳細介紹在線留言

在材料研究、半導體制造等領域，對微觀世界的精確觀測是推動技術(shù)發(fā)展的重要基礎。Sensofar 三維共聚焦白光干涉光學輪廓儀中的 S neox 型號，憑借其融合共聚焦、干涉和多焦面疊加的復合技術(shù)，在各類表面測量場景中展現(xiàn)出優(yōu)勢。Sensofar輪廓儀微觀世界的多面探索者

共聚焦技術(shù)部分，其橫向分辨率可達 0.10um，這一性能讓臨界尺寸測量變得更為可靠。例如在測量光滑表面時，能應對斜率達 70° 的工況，而面對粗糙表面，斜率適應能力可提升至 86°，無論是精密零件的微小凹槽還是復合材料的復雜紋理，都能清晰捕捉。干涉技術(shù)則包含相位差干涉和白光干涉兩種模式：相位差干涉專注于光滑表面的高度形貌測量，亞納米級的精度在不同放大倍數(shù)下均能保持穩(wěn)定，即便是納米級的臺階高度差異也能被識別；白光干涉則以納米級測量精度適用于更多樣化的表面類型，從光學鏡片的拋光面到金屬工件的切削面，都能提供準確的高度數(shù)據(jù)。多焦面疊加技術(shù)專為粗糙表面設計，不僅測量速度較快，且對大斜率表面的適應能力可達 86°，解決了傳統(tǒng)光學測量在粗糙表面易出現(xiàn)的信息丟失問題。

設備的核心光學元件選用高透光率的優(yōu)質(zhì)光學材料，配合精密鍍膜工藝，減少光線反射與散射，確保成像清晰度。機械結(jié)構(gòu)采用輕質(zhì)高強度合金，在保證整體穩(wěn)定性的同時，降低了設備搬運與安裝的難度。在應用方面，它可對金屬、非金屬、復合材料等多種材料表面進行二維和三維觀察測量，尤其在亞納米級粗糙度分析中表現(xiàn)突出。配套的分析軟件支持三維視圖的多角度觀察，能自動測量表面結(jié)構(gòu)的高度、寬度、粗糙度等參數(shù)，并生成包含數(shù)據(jù)圖表與三維圖像的詳細報告，為后續(xù)分析與決策提供直觀依據(jù)。Sensofar輪廓儀微觀世界的多面探索者

上一個：布魯克白光干涉輪廓儀儀器選型操作維護建議