對(duì)于地質(zhì)學(xué)家、礦物學(xué)家或從事聚合物、玻璃應(yīng)力分析的研究人員而言，偏光顯微鏡是專業(yè)設(shè)備。奧林巴斯專業(yè)偏光顯微鏡BX53P專為偏光觀察而優(yōu)化，能夠清晰地展現(xiàn)樣品的各向異性特征，揭示晶體形態(tài)和應(yīng)力分布。

BX53P的核心在于其精確的偏光系統(tǒng)。顯微鏡配備了起偏器、檢偏器和勃氏鏡，并確保偏振鏡片處于精確的90度正交位置，以提供高消光比的暗場(chǎng)背景，從而凸顯樣品的干涉色。360度可旋轉(zhuǎn)的專業(yè)級(jí)載物臺(tái)帶有刻度尺和游標(biāo)尺，可以精確測(cè)量晶體的消光角，為定量分析提供數(shù)據(jù)支持。

在材質(zhì)方面，BX53P的光路部件經(jīng)過特殊設(shè)計(jì)和篩選，以最大限度地減少自身應(yīng)力和雙折射現(xiàn)象對(duì)觀察結(jié)果的干擾，確保成像的準(zhǔn)確性。其物鏡專為偏光觀察設(shè)計(jì)，具有良好的應(yīng)力消除（PC）特性。

主要用途： 廣泛應(yīng)用于地質(zhì)礦產(chǎn)鑒定、巖石薄片分析、聚合物結(jié)晶形態(tài)觀察、液晶、纖維以及工業(yè)材料的應(yīng)力檢測(cè)。

使用說明簡(jiǎn)述： 將樣品薄片置于旋轉(zhuǎn)載物臺(tái)中心，插入起偏器和檢偏器，調(diào)節(jié)至正交位置即可觀察到樣品的干涉圖樣。通過旋轉(zhuǎn)載物臺(tái)，可以分析晶體的光學(xué)性質(zhì)。

參數(shù)表示例：

• 型號(hào)： BX53P

• 觀察方式： 偏光（POL）、明場(chǎng)

• 載物臺(tái)： 可旋轉(zhuǎn)中心載物臺(tái)（360°旋轉(zhuǎn)，帶刻度與游標(biāo)）

• 檢偏器： 可360°旋轉(zhuǎn)，帶刻度

• 勃氏鏡： 內(nèi)置，可調(diào)焦

• 物鏡： 無(wú)應(yīng)力（PC）物鏡

奧林巴斯BX53P專業(yè)偏光顯微鏡，為需要精確偏光分析的專業(yè)領(lǐng)域提供了清晰的觀察解決方案。