布魯克ContourX-200三維表面測量的實用之選

在工業(yè)研發(fā)與質(zhì)量控制中，對材料表面進行三維形貌測量是一項常見需求。布魯克公司的ContourX-200三維光學輪廓儀，為這一領(lǐng)域提供了一個值得考慮的選擇。它基于相移干涉技術(shù)（PSI）和白光垂直掃描干涉技術(shù)（VSI），能夠適應(yīng)多種表面的測量任務(wù)。

從外觀上看，ContourX-200結(jié)構(gòu)緊湊，設(shè)計注重用戶操作的便利性。其核心部件是一個集成化的光學頭，內(nèi)部包含了精密的光學系統(tǒng)和傳感器。儀器基座和主要結(jié)構(gòu)件采用了金屬材料，保證了平臺的穩(wěn)定性和抗振能力，這對于獲得清晰的干涉條紋和穩(wěn)定的測量數(shù)據(jù)很有幫助。樣品臺為手動控制，表面經(jīng)過磨砂處理，既防滑又耐刮擦，承重能力可以滿足大多數(shù)中小型工件的測量需求。

該儀器的性能特點在于其非接觸式的測量方式。它不會對柔軟、光滑或易損壞的表面造成劃傷或壓迫，保持了樣品的完整性。其垂直掃描能力允許它測量具有一定陡峭傾角或較大臺階高度的表面形貌。在操作軟件方面，它配備了直觀的Vision64®界面，用戶可以通過簡單的鼠標點擊完成對焦、光線調(diào)節(jié)、圖像捕獲以及數(shù)據(jù)分析的全流程。

ContourX-200的用途廣泛，適用于半導體、材料科學、精密加工、微電子及學術(shù)研究等多個領(lǐng)域。無論是檢測鏡面、拋光表面的微小粗糙度，還是分析磨砂、微結(jié)構(gòu)表面的臺階高度與體積，它都能提供有價值的三維數(shù)據(jù)。

基本參數(shù)概覽：

• 型號： ContourX-200

• 測量技術(shù)： PSI (相移干涉術(shù)) 和 VSI (白光垂直掃描干涉術(shù))

• 物鏡選項： 多種倍率可選（如2.5X, 5X, 10X, 20X, 50X）

• Z軸掃描范圍： 可達數(shù)毫米級別（具體取決于物鏡配置）

• 橫向分辨率： 與所選物鏡的倍率相關(guān)

• 平臺尺寸： 適用于多數(shù)中小樣品

• 數(shù)據(jù)輸出： 三維形貌圖、二維輪廓線、粗糙度參數(shù)（Sa, Sq, Sz等）、臺階高度、體積等多項指標

使用前，需將儀器安置在穩(wěn)固的實驗臺上，并避免強振動和直射光的環(huán)境。開機后，預熱片刻以使系統(tǒng)性能穩(wěn)定。放置樣品，通過手動旋鈕調(diào)整樣品臺位置，在軟件實時視窗中尋找觀測區(qū)域。選擇合適的物鏡和測量模式，即可開始自動測量。完成后，可利用軟件內(nèi)置的強大分析工具進行數(shù)據(jù)處理和報告生成。

布魯克ContourX-200三維表面測量的實用之選