布魯克輪廓儀實驗室與車間的“橋梁型設備"

在追求高效生產的今天，表面形貌測量需兼顧研發(fā)階段的深度分析與量產環(huán)節(jié)的快速質檢。布魯克ContourX-200三維光學輪廓儀以“平衡性能與靈活性"為設計理念，通過模塊化硬件、智能化軟件與穩(wěn)定結構，為不同場景提供了一款可定制化的表面計量解決方案。

設計哲學：在性能與成本間尋找優(yōu)解

ContourX-200聚焦于“大多數(shù)實驗室的日常需求"，在測量范圍、系統(tǒng)性能與占地面積間實現(xiàn)平衡。其200mm×200mm的XY平面行程與200mm的Z向行程，可覆蓋半導體晶圓、MEMS器件與小型精密零件的測量需求，同時保持緊湊的臺式設計，節(jié)省實驗室空間。設備采用高剛性鋁材與精密導軌，搭配主動防震臺，確保在普通車間環(huán)境下也能實現(xiàn)≤0.1%的測量重復性。

核心模塊：按需配置的靈活性

• 光學頭：支持2.5X至115X物鏡手動或電動切換，可選配長工作距離（LWD）物鏡以適配高樣品。

• 載物臺：150mm×150mm電動XY平臺，提供100mm垂直行程與±6°傾斜功能，支持曲面樣品測量。

• 光源系統(tǒng)：雙色LED（白光/綠光）提供穩(wěn)定照明，適應不同反射率表面。

• 成像模塊：500萬像素黑白或彩色攝像頭，支持1200×1000分辨率成像，采樣速率37μm/s。

性能參數(shù)：技術指標的實用導向

軟件生態(tài)：從入門到高階的平滑過渡

• VisionXpress™：簡化版界面提供自動對焦、強度調節(jié)與一鍵式報告生成功能，適合生產線快速質檢。

• Vision64®：支持ISO 25178、ASME B46.1等標準分析，提供200余種粗糙度參數(shù)與3D紋理分析工具，并可定制分析模板。

• 自動化擴展：通過腳本編輯器與MES系統(tǒng)集成，實現(xiàn)批量測量、數(shù)據(jù)追溯與異常報警。

行業(yè)應用：從實驗室到車間的無縫銜接

• 半導體行業(yè)：測量晶圓表面粗糙度與薄膜厚度，監(jiān)控化學機械拋光（CMP）工藝穩(wěn)定性。

• 汽車制造：檢測發(fā)動機零件表面缺陷，量化磨損量以優(yōu)化維護周期。

• 消費電子：分析手機玻璃蓋板的光潔度，確保觸控靈敏度與顯示效果。

• 能源領域：評估燃料電池雙極板表面粗糙度，提升氣體擴散效率與耐久性。

操作案例：量產線上的高效質檢

某精密模具廠引入ContourX-200后，通過以下步驟實現(xiàn)測量效率提升：

1. 定制模板：在Vision64®中預設模具型腔的粗糙度分析模板，包含Sa、Sz等關鍵參數(shù)。

2. 批量測量：將多個模具固定于載物臺，通過腳本編輯器設置自動測量路徑。

3. 數(shù)據(jù)追溯：測量結果自動上傳至MES系統(tǒng)，生成包含時間戳與操作員信息的報告。

4. 異常預警：當粗糙度超出閾值時，系統(tǒng)觸發(fā)報警并暫停生產線，防止缺陷品流出。

結語：以平衡之道，賦能多元場景

ContourX-200三維光學輪廓儀憑借其模塊化設計、智能化軟件與穩(wěn)定結構，成為連接實驗室與車間的“橋梁型設備"。無論是高校的前沿研究，還是工業(yè)的量產需求，它都能以靈活的配置與可靠的性能，助力用戶實現(xiàn)表面計量的高效化與標準化。